264141
Brak okładki
Książka
W koszyku
Trafność pomiaru jako podstawa obiektywizacji egzaminów szkolnych / red. Bolesław Niemierko ; współred. Janina Sygniewicz, Wojciech Walczak ; [Wyższa Szkoła Humanistyczno-Ekonomiczna w Łodzi et al.]. - Łódź : Wydaw. WSH-E, cop. 2003. - 395 s. : mapy, rys., tab., wykr. ; 24 cm.
Autor
Niemierko Bolesław (1935- ) Red. Sygniewicz Janina Red. Walczak Wojciech (1959- ) Red.
Forma i typ
Książki
Temat
Egzaminy szkolne Oceny szkolne
Gatunek
Materiały konferencyjne
Temat: obce: Egzaminy - materiały ogólne Ocena pracy ucznia - materiały ogólne
Czytelnia: Ped. 2764
Ped. 2764
zob. w.bibliotece.pl
Status dostępności:
Łódź - Czytelnia
Egzemplarze są dostępne wyłącznie na miejscu w bibliotece: sygn. 291645 Cz (Ped. 2764) [Czytelnia] (1 egz.)
Strefa uwag:
Uwaga ogólna
U dołu okł.: IX Krajowa Konferencja z cyklu Diagnostyka Edukacyjna, Łódź 24-26 września 2003 roku.
Uwaga dotycząca bibliografii
Bibliogr. przy mater.
Uwaga dotycząca języka
Tekst częśc. ang.
Recenzje:
Potwierdź wykonanie raportu
Wyprowadzać dodatkowo:
sygnatury
identyfikatory
hasła przedmiotowe
lokalizacja
streszczenia
numer ISBN
hasło sortowania
adres wersji elektronicznej
rozmieszczenie egzemplarzy
opis fizyczny
Sortowanie zestawienia:
Sortowanie pozycji zestawienia:
Sortowanie pozycji zestawienia:
Pozycja została dodana do koszyka. Jeśli nie wiesz, do czego służy koszyk, kliknij tutaj, aby poznać szczegóły.
Nie pokazuj tego więcej